Biografia
Absolwent Wydziału Chemicznego Politechniki Warszawskiej. W 2014 r. obronił pracę doktorską na Wydziale Chemicznym Politechniki Warszawskiej pt. „Opracowanie i badania mikroukładów z konduktometryczną detekcją jonowego składu próbki”. Od 2009 do 2016 r. pracował w Instytucie Technologii Elektronowej gdzie zajmował się głównie technologią wytwarzania tranzystorów HEMT. W latach 2016 do 2019 podjął pracę w Oxford Instruments na stanowisku starszego inżyniera serwisowego i procesowego gdzie zajmował się instalacjami, serwisami i odbiorami urządzeń badawczych i produkcyjnych do półprzewodnikowych procesów plazmowych oraz szkoleniami klientów w cleanroomach na obszarze całej Europy. Od 2019 r. związany jest z CEZAMAT-em gdzie pracuje na stanowisku adiunkta. Jego obszar zainteresowań badawczych obejmuje procesy plazmowe, procesy litografii, implantację jonów oraz zagadnienia związane ze zjawiskami mikroprzepływów.
Obszar badań
- procesy plazmowe w technologii półprzewodnikowej
- procesy litografii
- implantacja jonów
- tematyka mikroprzepływów
Wybrane publikacje
- M.A. Borysiewicz, M. Juchniewicz, P. Prystawko, A. Zagojski, M. Wzorek, M. Ekielski, K. Pągowska, W. Zaleszczyk, Hierarchically porous GaN thin films fabricated using high fluence Ar ion implantation of epitaxial GaN on sapphire, Thin Solid Films, Volume 758, 2022,139429
- Lelit, M.; Słowikowski, M.; Filipiak, M.; Juchniewicz, M.; Stonio, B.; Michalak, B.; Pavłov, K.; Myśliwiec, M.; Wiśniewski, P.; Kaźmierczak, A.; Anders, K.; Stopiński, S.; Beck, R.B.; Piramidowicz, R. Passive Photonic Integrated Circuits Elements Fabricated on a Silicon Nitride Platform. Materials 2022, 15, 1398.
- Rutkowska, K.A.; Sobotka, P.; Grom, M.; Baczyński, S.; Juchniewicz, M.; Marchlewicz, K.; Dybko, A. A Novel Approach for the Creation of Electrically Controlled LC:PDMS Microstructures. Sensors 2022, 22, 4037. https://doi.org/10.3390/s22114037
- Pawłowska, S., Gierowski, J., Stonio, B. et al. Implementation of SiN thin film in fiber-optic sensor working in telecommunication range of wavelengths. Sci Rep 11, 22402 (2021). https://doi.org/10.1038/s41598-021-00195-9